NI半导体测试系统(STS)

发布时间:2018年07月27日 11:07    发布者:eechina
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半导体测试系统(STS)系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统,适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计,把产品的所有关键测试资源整合在仪器,这些测试资源包括系统控制器、直流交流电源、射频仪器、待测设备接口以及分拣仪器和探头接口。这样的紧凑型设计减小了额外的占地空间,降低了功耗,减轻了传统ATE测试员的维护负担,从而节约了测试成本。此外,STS采用开放的、模块化的设计,使您可以利用最新的工业标准的PXI模块,获得更多的仪器资源和更强大的计算能力。

资料下载: NI半导体测试系统STS_Flyer_CN.pdf (1.14 MB, 下载次数: 16)
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